Applied logistic regression

Библиографические подробности
Главный автор:	Hosmer, David W.
Другие авторы:	Lemeshow, Stanley
Формат:	‌
Язык:	English
Опубликовано:	New York Wiley c2000.
Редактирование:	2nd ed.
Предметы:	Regression analysis.