Museum assessment and FDH technology a global approach

Museum assessment and FDH technology a global approach

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Mairesse, Francois
Andere auteurs: Eeckaut, Philippe Vanden
Formaat: Boek
Taal:English
Gepubliceerd in: Belgium Center for Operations Research & Econometrics Universite Catholique de Louvain, 1999.
Reeks:CORE discussion paper no.9938
Onderwerpen:
Museums.
Museums > Evaluations > Mathematical models.