The Test access port and boundary scan architecture

The Test access port and boundary scan architecture

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
বিন্যাস: গ্রন্থ
ভাষা:English
প্রকাশিত: Los Alamitos, Calif. IEEE Computer Society Press c1990.
বিষয়গুলি:
Boundary scan testing.
Computer architecture.
Electronic circuits > Testing > Data processing.