תמונות העטיפה

The Test access port and boundary scan architecture

מידע ביבליוגרפי
פורמט: ספר
שפה:אנגלית
יצא לאור: Los Alamitos, Calif. IEEE Computer Society Press c1990.
נושאים:
Boundary scan testing.
Computer architecture.
Electronic circuits > Testing > Data processing.