Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production

Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production

Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Jakubowski, Andrzej
Muut tekijät: Marciniak, Wieslaw, Przewlocki, Henryk M.
Aineistotyyppi: Kirja
Kieli:English
Julkaistu: Singapore World Scientific 1991.
Aiheet:
Integrated circuits > Very large scale integration > Design and construction.
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.