Bridging faults and IDDQ testing

Bridging faults and IDDQ testing

Bibliografiset tiedot
Yhteisötekijä: IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee
Aineistotyyppi: Kirja
Kieli:English
Julkaistu: Los Alamitos, Calif. IEEE Computer Society Press c1992.
Aiheet:
IDDQ testing.
Metal oxide semiconductors, Complementary > Testing > Data processing.