Bridging faults and IDDQ testing

Bridging faults and IDDQ testing

Chi tiết về thư mục
Tác giả của công ty: IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee
Định dạng: Sách
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Los Alamitos, Calif. IEEE Computer Society Press c1992.
Những chủ đề:
IDDQ testing.
Metal oxide semiconductors, Complementary > Testing > Data processing.