Bridging faults and IDDQ testing

Bridging faults and IDDQ testing

Opis bibliograficzny
Korporacja: IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee
Format: Książka
Język:English
Wydane: Los Alamitos, Calif. IEEE Computer Society Press c1992.
Hasła przedmiotowe:
IDDQ testing.
Metal oxide semiconductors, Complementary > Testing > Data processing.