Hot-carrier effects in MOS devices

Opis bibliograficzny
1. autor:	Takeda, Eiji 1944-
Kolejni autorzy:	Yang, C. Y.-W. 1948- (Cary Y. -W.), Miura-Hamada, Akemi
Format:	Książka
Język:	English
Wydane:	San Diego Academic Press c1995.
Hasła przedmiotowe:	Metal oxide semiconductors. Hot carriers.