Hot-carrier effects in MOS devices

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur:	Takeda, Eiji 1944-
Andere auteurs:	Yang, C. Y.-W. 1948- (Cary Y. -W.), Miura-Hamada, Akemi
Formaat:	Boek
Taal:	English
Gepubliceerd in:	San Diego Academic Press c1995.
Onderwerpen:	Metal oxide semiconductors. Hot carriers.