Hot-carrier effects in MOS devices

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Takeda, Eiji 1944-
Weitere Verfasser:	Yang, C. Y.-W. 1948- (Cary Y. -W.), Miura-Hamada, Akemi
Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	San Diego Academic Press c1995.
Schlagworte:	Metal oxide semiconductors. Hot carriers.