Hot-carrier effects in MOS devices

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:	Takeda, Eiji 1944-
مؤلفون آخرون:	Yang, C. Y.-W. 1948- (Cary Y. -W.), Miura-Hamada, Akemi
التنسيق:	كتاب
اللغة:	English
منشور في:	San Diego Academic Press c1995.
الموضوعات:	Metal oxide semiconductors. Hot carriers.