VLSI testing digital and mixed analogue/digital techniques

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Hurst, Stanley L.
פורמט:	ספר
שפה:	English
יצא לאור:	Herts, U.K. The Institution of Electrical Engineers c1998.
נושאים:	Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
גישה מקוונת:	Also available online for University of the Philippines Diliman via IET Digital Library. Click here to access