VLSI testing digital and mixed analogue/digital techniques

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας:	Hurst, Stanley L.
Μορφή:	Βιβλίο
Γλώσσα:	English
Έκδοση:	Herts, U.K. The Institution of Electrical Engineers c1998.
Θέματα:	Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Διαθέσιμο Online:	Also available online for University of the Philippines Diliman via IET Digital Library. Click here to access