VLSI testing digital and mixed analogue/digital techniques

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:	Hurst, Stanley L.
التنسيق:	كتاب
اللغة:	English
منشور في:	Herts, U.K. The Institution of Electrical Engineers c1998.
الموضوعات:	Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
الوصول للمادة أونلاين:	Also available online for University of the Philippines Diliman via IET Digital Library. Click here to access