Semiconductor memories technology, testing, and reliability

Detaylı Bibliyografya
Yazar:	Sharma, Ashok K.
Diğer Yazarlar:	IEEE Solid-State Circuits Council
Materyal Türü:	Kitap
Dil:	English
Baskı/Yayın Bilgisi:	Piscataway, N.J. IEEE Press c1997.
Konular:	Semiconductor storage devices.