Semiconductor memories technology, testing, and reliability

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক:	Sharma, Ashok K.
অন্যান্য লেখক:	IEEE Solid-State Circuits Council
বিন্যাস:	গ্রন্থ
ভাষা:	English
প্রকাশিত:	Piscataway, N.J. IEEE Press c1997.
বিষয়গুলি:	Semiconductor storage devices.