Semiconductor memories technology, testing, and reliability

Semiconductor memories technology, testing, and reliability

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Sharma, Ashok K.
Další autoři: IEEE Solid-State Circuits Council
Médium: Kniha
Jazyk:English
Vydáno: Piscataway, N.J. IEEE Press c1997.
Témata:
Semiconductor storage devices.