Semiconductor memories technology, testing, and reliability

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Sharma, Ashok K.
Weitere Verfasser:	IEEE Solid-State Circuits Council
Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Piscataway, N.J. IEEE Press c1997.
Schlagworte:	Semiconductor storage devices.