Automatic testing and evaluation of digital integrated circuits

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Healy, James Thomas 1940-
বিন্যাস: গ্রন্থ
ভাষা:English
প্রকাশিত: Reston, Va. Reston Pub. Co. c1981.
বিষয়গুলি: