The physics of SiO2 and its interfaces.

The physics of SiO2 and its interfaces.

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: International Topical Conference on The Physics of SiO2 and its Interfaces held at the IBM Thomas J. Watson Research Center Yorktown Heights, New York, March 22-24, 1978
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: New York Pergamon Press c1978.
Θέματα:
Silica > Congresses.
Surface chemistry > Congresses.
Surfaces (Physics) > Congresses.