Advances in X-ray analysis proceedings of the... Annual Conference on Application of X-ray Analysis

Opis bibliograficzny
organizacja autorów:	Conference on Applications of X-ray Analysis, Denver. University. Denver University Research Institute
Kolejni autorzy:	Mueller, William M., ed, Fay, Marie, ed
Format:	Książka
Język:	English
Wydane:	Denver 1957- .
Wydanie:	6th ed.
Hasła przedmiotowe:	X-rays > Industrial applications > Congresses.