Tutorial test generation for VLSI chips

Tutorial test generation for VLSI chips

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
সংস্থা লেখক: IEEE Computer Society
অন্যান্য লেখক: Agrawal, Vishwani D. 1943-, Seth, Sharad C.
বিন্যাস: গ্রন্থ
ভাষা:English
প্রকাশিত: Washington, D.C., Los Angeles, CA Computer Society Press Order from Computer Society c1988.
বিষয়গুলি:
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Automatic test equipment.