Tutorial test generation for VLSI chips

Tutorial test generation for VLSI chips

Dettagli Bibliografici
Ente Autore: IEEE Computer Society
Altri autori: Agrawal, Vishwani D. 1943-, Seth, Sharad C.
Natura: Libro
Lingua:English
Pubblicazione: Washington, D.C., Los Angeles, CA Computer Society Press Order from Computer Society c1988.
Soggetti:
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Automatic test equipment.