Tutorial test generation for VLSI chips

Tutorial test generation for VLSI chips

Podrobná bibliografie
Korporativní autor: IEEE Computer Society
Další autoři: Agrawal, Vishwani D. 1943-, Seth, Sharad C.
Médium: Kniha
Jazyk:English
Vydáno: Washington, D.C., Los Angeles, CA Computer Society Press Order from Computer Society c1988.
Témata:
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Automatic test equipment.