Applied electronic instrumentation and measurement

Библиографические подробности
Главный автор: Buchla, David
Другие авторы: McLachlan, Wayne
Формат:
Язык:English
Опубликовано: New York, Toronto, New York Merrill Collier Macmillan Canada Maxwell Macmillan International Pub. Group c1992.
Предметы: