Logic testing and design for testability

Библиографические подробности
Главный автор:	Fujiwara, Hideo (Автор)
Формат:	Electronic Resource
Язык:	English
Опубликовано:	Cambridge, Massachusetts The MIT Press [1985]
Предметы:	Logic circuits > Testing. Electronic books.
Online-ссылка:	https://ieeexplore-ieee-org.ezproxy.engglib.upd.edu.ph/book/6267264 https://ieeexplore.ieee.org/book/6267264