Cytowanie według stylu APA (wyd. 7)

Ghavami, B., & Raji, M. (2021). Soft error reliability of VLSI circuits: Analysis and mitigation techniques. Springer. https://doi.org/10.1007/978-3-030-51610-9

Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)

Ghavami, Behnam, i Mohsen Raji. Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques. Switzerland: Springer, 2021. https://doi.org/10.1007/978-3-030-51610-9.

Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)

Ghavami, Behnam, i Mohsen Raji. Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques. Springer, 2021. https://doi.org/10.1007/978-3-030-51610-9.