Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

Ghavami, B., & Raji, M. (2021). Soft error reliability of VLSI circuits: Analysis and mitigation techniques. Springer. https://doi.org/10.1007/978-3-030-51610-9

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

Ghavami, Behnam, και Mohsen Raji. Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques. Switzerland: Springer, 2021. https://doi.org/10.1007/978-3-030-51610-9.

Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)

Ghavami, Behnam, και Mohsen Raji. Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques. Springer, 2021. https://doi.org/10.1007/978-3-030-51610-9.