Integrated circuit failure analysis a guide to preparation techniques

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Beck, Friedrich (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Wilson S. Stephen (ÜbersetzerIn)
Format:	Buch
Sprache:	Englisch Deutsch
Veröffentlicht:	New York Wiley [1997]
Schriftenreihe:	Wiley series in quality and reliability engineering
Schlagworte:	Semiconductors > Testing.