Applied logistic regression

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Hosmer, David W.
מחברים אחרים: Lemeshow, Stanley
פורמט: ספר
שפה:English
יצא לאור: New York Wiley c2000.
מהדורה:2nd ed.
נושאים: