Thermal stability study on titanium disilicide (tisi2) thin films with titanium nitride (tin) capping using atomic force microscopy

Detalhes bibliográficos
Publicado no:Philippine Engineering Journal Vol. 23, no. 2 (2002), 49-62
Autor principal: Venezuela, Jeffrey DG
Outros Autores: Amorsolo, Jr. Albert V.
Formato: Artigo
Idioma:English
Publicado em: 2002
Assuntos: