Analysis of crack propagation under different die tilt configuration on a small outline transistor

Detalhes bibliográficos
Publicado no:Philippine Engineering Journal Vol. 41, no. 1 (2020), 19-32
Autor principal: Callanga, Jennifer F.
Outros Autores: Macaspac, Hannah Erika, Danao, Louis Angelo M., Mena, Manolo
Formato: Artigo
Idioma:English
Publicado em: 2020
Assuntos: