Analysis of crack propagation under different die tilt configuration on a small outline transistor

Opis bibliograficzny
Wydane w:Philippine Engineering Journal Vol. 41, no. 1 (2020), 19-32
1. autor: Callanga, Jennifer F.
Kolejni autorzy: Macaspac, Hannah Erika, Danao, Louis Angelo M., Mena, Manolo
Format: Artykuł
Język:English
Wydane: 2020
Hasła przedmiotowe: