Analysis of crack propagation under different die tilt configuration on a small outline transistor

Bibliografski detalji
Izdano u:Philippine Engineering Journal Vol. 41, no. 1 (2020), 19-32
Glavni autor: Callanga, Jennifer F.
Daljnji autori: Macaspac, Hannah Erika, Danao, Louis Angelo M., Mena, Manolo
Format: Članak
Jezik:English
Izdano: 2020
Teme: