Analysis of crack propagation under different die tilt configuration on a small outline transistor

מידע ביבליוגרפי
הוצא לאור ב:Philippine Engineering Journal Vol. 41, no. 1 (2020), 19-32
מחבר ראשי: Callanga, Jennifer F.
מחברים אחרים: Macaspac, Hannah Erika, Danao, Louis Angelo M., Mena, Manolo
פורמט: Article
שפה:English
יצא לאור: 2020
נושאים: