Analysis of crack propagation under different die tilt configuration on a small outline transistor
Julkaisussa: | Philippine Engineering Journal Vol. 41, no. 1 (2020), 19-32 |
---|---|
Päätekijä: | |
Muut tekijät: | , , |
Aineistotyyppi: | Artikkeli |
Kieli: | English |
Julkaistu: |
2020
|
Aiheet: |