Analysis of crack propagation under different die tilt configuration on a small outline transistor

Xehetasun bibliografikoak
Argitaratua izan da:Philippine Engineering Journal Vol. 41, no. 1 (2020), 19-32
Egile nagusia: Callanga, Jennifer F.
Beste egile batzuk: Macaspac, Hannah Erika, Danao, Louis Angelo M., Mena, Manolo
Formatua: Artikulua
Hizkuntza:English
Argitaratua: 2020
Gaiak: