Analysis of crack propagation under different die tilt configuration on a small outline transistor

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Philippine Engineering Journal Vol. 41, no. 1 (2020), 19-32
1. Verfasser: Callanga, Jennifer F.
Weitere Verfasser: Macaspac, Hannah Erika, Danao, Louis Angelo M., Mena, Manolo
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: 2020
Schlagworte: