Analysis of crack propagation under different die tilt configuration on a small outline transistor

Podrobná bibliografie
Vydáno v:Philippine Engineering Journal Vol. 41, no. 1 (2020), 19-32
Hlavní autor: Callanga, Jennifer F.
Další autoři: Macaspac, Hannah Erika, Danao, Louis Angelo M., Mena, Manolo
Médium: Článek
Jazyk:English
Vydáno: 2020
Témata: