Analysis of crack propagation under different die tilt configuration on a small outline transistor

Dades bibliogràfiques
Publicat a:Philippine Engineering Journal Vol. 41, no. 1 (2020), 19-32
Autor principal: Callanga, Jennifer F.
Altres autors: Macaspac, Hannah Erika, Danao, Louis Angelo M., Mena, Manolo
Format: Article
Idioma:English
Publicat: 2020
Matèries: