Torthaí cuardaigh - "Very large scale integrated circuits."

  • 1 - 4 toradh as 4 á dtaispeáint
Beachtaigh na torthaí
  1. 1

    Improving the stuck-at fault coverage of functional test sequences by using limited-scan operations. de réir Pomeranz, I.

    Alt


    Íomhá chlúdaigh
  2. 2

    The effect of LUT and cluster size on deep-submicron FPGA performance and density. de réir Ahmed, E.

    Alt


    Íomhá chlúdaigh
  3. 3

    Trading off transient fault tolerance and power consumption in deep submicron (DSM) VLSI circuits. de réir Maheshwari, A.

    Alt


    Íomhá chlúdaigh
  4. 4

    Design of wireless on-wafer submicron characterization system. de réir Moore, B.

    Alt


    Íomhá chlúdaigh

Uirlisí cuardaigh: