প্রদর্শন 1 - 10 ফলাফল এর 12 অনুসন্ধানের জন্য '"VLSI circuits."', জিজ্ঞাসা করার সময়: 0.02সেকেন্ড ফলাফল পরিমার্জন করুন
  1. 1

    The design of DNA self-assembled computing circuitry. অনুযায়ী Dwyer, C.

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    The design of DNA self-assembled computing circuitry.
  2. 2

    Toward the accurate prediction of placement wire length distributions in VLSI circuits. অনুযায়ী Dambre, J.

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Toward the accurate prediction of placement wire length distributions in VLSI circuits.
  3. 3

    Analytical models and algorithms for the efficient signal integrity verification of inductance-effect-prominent multicoupled VLSI circuit interconnects. অনুযায়ী Seongkyun Shin

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Analytical models and algorithms for the efficient signal integrity verification of inductance-effect-prominent multicoupled VLSI circuit interconnects.
  4. 4

    Trading off transient fault tolerance and power consumption in deep submicron (DSM) VLSI circuits. অনুযায়ী Maheshwari, A.

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Trading off transient fault tolerance and power consumption in deep submicron (DSM) VLSI circuits.
  5. 5

    Design of wireless on-wafer submicron characterization system. অনুযায়ী Moore, B.

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Design of wireless on-wafer submicron characterization system.
  6. 6

    Efficient algorithms for multilevel power estimation of VLSI circuits. অনুযায়ী Bachmann, W.W

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Efficient algorithms for multilevel power estimation of VLSI circuits.
  7. 7

    Cascaded Bayesian inferencing for switching activity estimation with correlated inputs. অনুযায়ী Bhanja, S.

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Cascaded Bayesian inferencing for switching activity estimation with correlated inputs.
  8. 8

    Improving the stuck-at fault coverage of functional test sequences by using limited-scan operations. অনুযায়ী Pomeranz, I.

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Improving the stuck-at fault coverage of functional test sequences by using limited-scan operations.
  9. 9

    Design of hierarchical cellular automata for on-chip test pattern generator. অনুযায়ী Sikdar, B.K

    প্রবন্ধ

    Design of hierarchical cellular automata for on-chip test pattern generator.
  10. 10

    Statistical analysis of subthreshold leakage current for VLSI circuits. অনুযায়ী Rao, R.

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Statistical analysis of subthreshold leakage current for VLSI circuits.

অনুসন্ধান সাধনীগুলি: