-
181
-
182
-
183
-
184
-
185
-
186
Hot-hole-induced dielectric breakdown in LDMOS transistors.
Gepubliceerd in IEEE Transactions on electron devicesArtikel -
187
-
188
-
189
-
190
Impact ionization measurements and modeling for power PHEMT.
Gepubliceerd in IEEE Transactions on electron devicesArtikel