Εμφανίζονται 1 - 1 Αποτελέσματα από 1 για την αναζήτηση '"Tester program."', χρόνος αναζήτησης: 0,01δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains. ανά Jas, A.

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains.

Εργαλεία αναζήτησης: