يعرض 1 - 6 نتائج من 6 نتيجة بحث عن '"Test-data compression."', وقت الاستعلام: 0.02s تنقيح النتائج
  1. 1

    A unified approach to reduce SOC test data volume, scan power and testing time. حسب Chandra, A.

    مقال

    A unified approach to reduce SOC test data volume, scan power and testing time.
  2. 2

    Synchronization overhead in SOC compressed test. حسب Gonciari, P.T

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال

    Synchronization overhead in SOC compressed test.
  3. 3

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. حسب Jas, A.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  4. 4

    Test slice difference technique for low-transition test data compression. حسب Rau, Jiann-Chyi

    الحاوية / القاعدة Journal of Applied Science and Engineering
    مقال

    Test slice difference technique for low-transition test data compression.
  5. 5

    Nine-coded compression technique for testing embedded cores in SoCs. حسب Tehranipoor, M.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال

    Nine-coded compression technique for testing embedded cores in SoCs.
  6. 6

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains. حسب Jas, A.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains.

أدوات البحث: