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Reverse-order-restoration-based static test compaction for synchronous sequential circuits.
por
Ruifeng Guo
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IEEE Transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
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Incremental integration testing of concurrent programs.
por
Koppol, P.V
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IEEE Transactions on software engineering
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Improving the stuck-at fault coverage of functional test sequences by using limited-scan operations.
por
Pomeranz, I.
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IEEE Transactions on VLSI systems
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Efficient testing of SRAM with optimized march sequences and a novel DFT technique for emerging failures due to process variations.
por
Qikai Chen
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IEEE Transactions on VLSI systems
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