Αποτελέσματα αναζήτησης - "Test patterns."

Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 11

    Test pattern generation and partial-scan methodology for an asynchronous SoC interconnect. από Efthymiou, A.

    Εκδόθηκε σε IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο


    Εξώφυλλο
  2. 12

    Automatic test pattern generation for functional register-transfer level circuits using assignment decision diagrams. από Ghosh, I.

    Άρθρο


    Εξώφυλλο

Εργαλεία αναζήτησης: