Sökresultat - "Test generation."

  • Visas 1 - 9 av 9 resultat
Förfina resultatet
  1. 1

    Test enrichment for path delay faults using multiple sets of target faults. av Pomeranz, I.

    Artikel


    Omslagsbild
  2. 2

    Autoscan a scan design without external scan inputs or outputs. av Pomeranz, I.

    Artikel


    Omslagsbild
  3. 3

    A test generation strategy for pairwise testing. av Kuo-Chung Tai

    Artikel


    Omslagsbild
  4. 4

    Function-based compact test pattern generation for path delay faults. av Michael, M.K

    Artikel


    Omslagsbild
  5. 5

    Testing ASICs with multiple identical cores. av Yuejian Wu

    Artikel


    Omslagsbild
  6. 6

    Generating optimal distinguishing sequences with a model checker. av Robinson-Mallett, Christopher

    I publikationen Software engineering notes.
    Artikel


    Omslagsbild
  7. 7

    Software-based self-testing methodology for processor cores. av Li Chen

    Artikel


    Omslagsbild
  8. 8

    Accumulator-based test generation for robust sequential fault testing in DSP cores in near-optimal time. av Voyiatzis, I.

    Artikel


    Omslagsbild
  9. 9

    Automatic test pattern generation for functional register-transfer level circuits using assignment decision diagrams. av Ghosh, I.

    Artikel


    Omslagsbild

Sökverktyg: