অনুসন্ধান ফলাফলগুলি - "Test generation procedure."

  • প্রদর্শন 1 - 2 ফলাফল এর 2
ফলাফল পরিমার্জন করুন
  1. 1

    Autoscan a scan design without external scan inputs or outputs. অনুযায়ী Pomeranz, I.

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ


    প্রচ্ছদ
  2. 2

    Test enrichment for path delay faults using multiple sets of target faults. অনুযায়ী Pomeranz, I.

    প্রবন্ধ


    প্রচ্ছদ

অনুসন্ধান সাধনীগুলি: