Torthaí cuardaigh - "Test cost reduction."

  • 1 - 3 toradh as 3 á dtaispeáint
Beachtaigh na torthaí
  1. 1

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. de réir Jas, A.

    Alt


    Íomhá chlúdaigh
  2. 2

    SOC test planning using virtual test access architectures. de réir Sehgal, A.

    Alt


    Íomhá chlúdaigh
  3. 3

    Low-power scan design using first-level supply gating. de réir Bhunia, S.

    Alt


    Íomhá chlúdaigh

Uirlisí cuardaigh: