Εμφανίζονται 1 - 2 Αποτελέσματα από 2 για την αναζήτηση '"Test compaction."', χρόνος αναζήτησης: 0,02δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1

    Function-based compact test pattern generation for path delay faults. ανά Michael, M.K

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο

    Function-based compact test pattern generation for path delay faults.
  2. 2

    Test enrichment for path delay faults using multiple sets of target faults. ανά Pomeranz, I.

    Άρθρο

    Test enrichment for path delay faults using multiple sets of target faults.

Εργαλεία αναζήτησης: