Εμφανίζονται 1 - 3 Αποτελέσματα από 3 για την αναζήτηση '"Test application time reduction."', χρόνος αναζήτησης: 0,02δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1

    A unified approach to reduce SOC test data volume, scan power and testing time. ανά Chandra, A.

    Άρθρο

    A unified approach to reduce SOC test data volume, scan power and testing time.
  2. 2

    Testing ASICs with multiple identical cores. ανά Yuejian Wu

    Άρθρο

    Testing ASICs with multiple identical cores.
  3. 3

    Testing of core-based systems-on-a-chip. ανά Ravi, S.

    Άρθρο

    Testing of core-based systems-on-a-chip.

Εργαλεία αναζήτησης: